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产品简介
常温探针台 电信号测试 是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。
| 品牌 | 郑科探 |
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常温探针台 电信号测试
常温探针台 电信号测试 技术参数；
屏蔽盒 | |
材质 | 碳钢喷塑 |
盒体尺寸 | 180mmX120mmX80mm |
盒体尺寸 | 约2KG |
盒体上视窗尺寸 | Φ42mm |
样品台 | |
样品台材质 | 铝合金 （可扩展真空吸附）（可扩展与大地绝缘） |
样品台尺寸 | φ30mm |
探针 | |
电信号接头 | 配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 选其一 线长1.2米 |
电学性能 | 绝缘电阻 ≥5000MΩ 介质耐压 ≤500V 电流噪声 ≤10pA |
探针数量 | 4探针（可扩展6探针） |
探针材质 | 钨合金探针 （其他材质可选） |
探针尖 | 50μm 或10μm（其他规格可选） |
手动探针移动平台 | |
移动方式 | 全手动点针 |
X轴移动行程 | 15mm ±7.5mm（需手动推动滑台） |
X轴控制精度 | ≥500μm |
R轴移动行程 | 120° ±60°（需手动旋转探针杆） |
R轴控制精度 | ≥500μm |
Z轴移动行程 | 5mm |
Z轴控制精度 | ≤50μm（需手动螺纹调节探针杆） |
目前公司已研发生产产品十多个系列几十款产品，产品囊括实验电炉 CVD供气系统 等离子清洗机 小型离子溅射仪 小型蒸镀仪 石英管真空封口 半导体等。 主要适用于科研院校及工矿企业在新材料、新能源等领域物理特性及化学特性的研究，广销于各大院校，及材料研究所。
公司与国内高校，科研院所有多层次的合作关系，建有开放实验室，相关领域的教授、工程师、博士参与公司产品的研究和开发。我们秉承公司的发展理念，依靠严谨的技术研发能力，科学合理的生产工艺，精益求精的制造要求，全心全意做好产品质量和服务工作，科探仪器时刻怀着一颗真诚的心期待与您的合作。
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