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Product Center该气敏测试真空探针台的承片台X/Y/Z三个方向均可在真空环境下调节,其中X方向调节范围:0-30mm;y方向调节范围:0-13mm;z方向调节范围:0-13mm;用户可根据需要自行调节。使用时将需检测的器件固定在加热台上,再微
小型真空探针台高温热台KT-0904T-R主要用于为被测芯片提供一个高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
高温热台小型真空探针台KT-0904T-R在高温真空环境下的芯片测试、LD/LED/PD测试、光纤光谱特性测试、材料/器件的IV/CV特性测试、霍尔测试、电磁输运特性、高频特性测试等
Mini真空探针台KT-0904T是一款普通型无高温低温系统真空探针台,尺寸300mmX260mm,轻便小乔,功能齐全。可应用于导体/微电子,电子,机电,物理,化学,材料,光电,纳米,微机电/MEMS,生物芯片,航空航天等科学研究领域,以及IC设计/制造/测试/封装、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生产制造领域。
高温真空腔光学测试KT-Z4019MRL4T,300X300X170(mm) 气浮隔振+阻尼隔振+橡胶减震底脚,-196℃至350℃微型高低温探针台,小巧轻便,功能齐全。